杭州機(jī)械轉(zhuǎn)臺(tái)公司
發(fā)布時(shí)間:2022-03-25 01:38:54
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大深徑比測(cè)量與高精度的統(tǒng)一突破了微深孔徑測(cè)量技術(shù),無論對(duì)單- -微結(jié)構(gòu)還是宏觀器件的微結(jié)構(gòu),均可實(shí)現(xiàn)超精密級(jí)的測(cè)量。自動(dòng)測(cè)量與數(shù)據(jù)分析軟件為客戶量身定制的專業(yè)測(cè)量軟件,可以實(shí)現(xiàn)工件的自動(dòng)測(cè)量與數(shù)據(jù)分析,大幅提升測(cè)量效率。本土化產(chǎn)品快速供應(yīng)相比國(guó)外同類產(chǎn)品具有更優(yōu)異的性能,核心部件全部國(guó)產(chǎn)化,60-80個(gè)工作日即可供貨,在最短的供貨時(shí)間內(nèi),提供最優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。專家級(jí)成套解決方案超精密級(jí)測(cè)量?jī)x器的測(cè)量精度常被工作環(huán)境、對(duì)象等吞沒。依托本公司超精密儀器與裝備工程專家團(tuán)隊(duì),可提供超精密測(cè)量成套解決方案。

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中小企業(yè)是德國(guó)經(jīng)濟(jì)的重要支柱。它們從不“嫌棄”自己的產(chǎn)品和領(lǐng)域不夠“高大上”,而是孜孜不倦,力求把產(chǎn)品做到極致,達(dá)到世界領(lǐng)先水平,因此這些企業(yè)也被冠以“隱形冠軍”的美名。曾參觀過德國(guó)一家生產(chǎn)工業(yè)風(fēng)扇的中小企業(yè),為了檢測(cè)風(fēng)扇運(yùn)行時(shí)的噪音,特意建造了先進(jìn)的靜音實(shí)驗(yàn)室,置身其中,可以聽到自己心跳的聲音。為提升品質(zhì)舍得投入,敢于投入,這樣的產(chǎn)品無疑具有強(qiáng)大的國(guó)際競(jìng)爭(zhēng)力。如果說責(zé)任感和完美主義貫穿于德國(guó)企業(yè)文化的始終,那么家庭傳承則為此打下了重要的基礎(chǔ)。

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研究目的:構(gòu)建一種具有橫向光學(xué)超分辨成像特性的新型共焦顯微成像特性,解決光束合理整形問題并突破衍射極限,實(shí)現(xiàn)一種具有橫向光學(xué)超分辨能力的共焦顯微成像技術(shù)?;驹恚簯?yīng)用二元光學(xué)器件,基于衍射原理將高斯激光光束整形為環(huán)形光束,通過設(shè)計(jì)環(huán)形光內(nèi)環(huán)半徑與外環(huán)半徑之比即環(huán)形光內(nèi)孔歸一化半徑ε,使將低頻光束頻移到高頻通帶,以減小共焦顯微鏡愛里斑的主瓣寬度,進(jìn)而達(dá)到提高其橫向分辨力和擴(kuò)展其量程范圍的目的。

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核心技術(shù)指標(biāo)通過國(guó)家量?jī)x產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心檢測(cè)主要核心技術(shù)指標(biāo)達(dá)到國(guó)際同類產(chǎn)品領(lǐng)先水平我公司該產(chǎn)品目前已有18種適應(yīng)不同應(yīng)用場(chǎng)合的的型號(hào)產(chǎn)品; 在航天、國(guó)防和高端超精密裝備制造領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用,可解決我國(guó)高端超精密裝備研制、生產(chǎn)和使用中的隔微振技術(shù)難題。隨著我國(guó)的裝備制造業(yè)向中高端發(fā)展,HUE-G2631將在我國(guó)發(fā)展該類高端超精密裝備發(fā)揮重大作用。航天發(fā)動(dòng)機(jī)、航空發(fā)動(dòng)機(jī)、汽車發(fā)動(dòng)機(jī)陣列式氣膜微孔、燃料微噴嘴氣浮設(shè)備陣列式微孔氣足、陣列式節(jié)流微孔光東引導(dǎo)微口徑約束、針孔光闌m科學(xué)實(shí)驗(yàn)研究校準(zhǔn)溯源、工藝改進(jìn)

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科學(xué)意義及應(yīng)用價(jià)值:融合了衍射光學(xué)技術(shù)和超分辨光瞳濾波技術(shù)的各自特性,其與傳統(tǒng)的環(huán)形透鏡式共焦測(cè)量系統(tǒng)相比,在達(dá)到同等橫向分辨力的情況下,由于整形環(huán)形光技術(shù)的采用使共焦顯微鏡的橫向和軸向強(qiáng)度響應(yīng)中心峰值的能量損失減小到1/(1-ε2)2倍,同時(shí)環(huán)形透鏡內(nèi)環(huán)邊緣的衍射對(duì)測(cè)量系統(tǒng)造成的影響,橫向分辨力優(yōu)于0.2μm。本技術(shù)涉及光學(xué)掃描顯微成像及微觀掃描測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,可用于測(cè)量樣品的三維表面形貌、三維微細(xì)結(jié)構(gòu)、微臺(tái)階、微構(gòu)槽、集成電路線寬等。